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| ◎ werth 非接觸三次元 ◎ WinWerth 多測頭運算技術 |
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德國 Werth 光學及接觸式三次元 |
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| 3 in 1 |
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適用產業 |
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電子產品 PCB、BGA 專業量測 |
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精密模具，薄件量測PDP、TFT |
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軟性材質檢驗 Leadframes |
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連接器產業 |
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手機逆向工程 |
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LCD 檢驗 |
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硬碟組件 |
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特點 |
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結合光學及接觸量測為一體之最佳系統 |
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自動對焦 CCD Zoom Werth，鏡頭 16 ∼ 160 X (3400X) |
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TP 200 接觸測頭 |
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六種光線提供完整之 3D 應用 |
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掃描式取點，提供更精確之計算 |
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| Win Werth |
| 影像分析及自動過濾毛邊 |
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| 300 * 200 * 200 mm |
| 400 * 200 * 200 mm |
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| Stage Level |
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E1=1.8+L/200 μm |
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E2=2.0+L/150 μm |
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| 400 * |
400 * |
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150 (300) mm |
| 800 * |
400 * |
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150 (300) mm |
| 600 * |
650 * |
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150 (300) mm |
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| 1000 * |
650 * |
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150 (300) mm |
| 1000 * |
1000 * |
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150 (300) mm |
| 1500 * |
650 * |
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150 (300) mm |
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| Autofocus |
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| Z 軸自動對焦精度 2 μm |
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| WERTH 系列具有高解析 CCD 自動對焦技術，可量測 Z 軸 |
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| 非接觸精度於 0.002 mm 以內連續掃瞄之接觸側頭相互搭配 |
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| 將接觸及非接觸之需求完全展現。 |
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| 650 x |
750 x |
500 |
| 650 x |
1200 x |
500 |
| 800 x |
1000 x |
700 |
| 800 x |
1500 x |
700 |
| 800 x |
2000 x |
700 |
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| MB 系列，於機台底部搭配專利設計底光 |
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| 解決橋架移動設計光源不足的疑慮 |
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| 將應用於更廣泛的產業 |
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| 250 * 125 * 200 mm |
| 400 * 200 * 200 mm |
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| Video Check IP |
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| Laboratory LevelHA |
| E1=0.5+L/900 μm |
| E2=0.7+L/600 μm |
| E3=1.5+L/500 μm |
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| 400 |
* 400 * 200 |
(300) |
mm |
| 800 |
* 400 * 200 |
(300) |
mm |
| 600 |
* 650 * 300 |
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mm |
| 1000 |
* 650 * 300 |
|
mm |
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| 1000 * 1000 * 300 (500) mm |
| 1250 * 1000 * 300 (500) mm |
| 1500 * 1000 * 300 (500) mm |
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