高階粒子分析
檢測和量化任何表面上任何形狀和大小的顆粒、孔隙、顆粒和其他特徵
受益於面向應用的分割技術
根據特徵將粒子分組
產生統計數據和圖形(散點圖、箱線圖、控製圖、直方圖等)