表面紋理分析

異常掃描線和測量偽影的校正

  • 使用最新的ISO 16610高級過濾技術(包括強大的高斯和样條過濾器)分離表面的粗糙度和波紋度分量
  • 訪問 ISO 參數:ISO 25178 高度(Sa、Sq、Ssk、Sku、Sz等)和功能(Smr、Smc、Sxp)參數、ISO 4287 主要和粗糙度參數(Ra、Rq、Rsk、Rmr、Rdc、Rdq、RPc等)等等