WIP (Werth Interferometer Probe)
小孔鏡雷射測頭：
小孔內壁尺寸及輪廓/粗糙度

CFP (Chromatic Focus Point)
白光干涉測頭：
透明及鏡面工件輪廓/粗糙度

WFP (Werth Fiber Probe)
微小光纖測頭 2D/3D：
小孔輕薄工件量測及掃描

CFL (Chromatic Focus Line)
線白光干涉測頭：
透明鏡面高速掃描

WLP (Werth Laser Probe)
高速點雷測掃描：
非接觸平面度輪廓度掃描

WCP (Werth Contour Probe)
接觸式輪廓/粗糙度測頭：
接觸式輪廓/粗糙度量測

NFP (Nano Focus Probe)
奈米共軛焦測頭：
細微工件 3D 掃描

TTP
標準接觸式測頭：
一般尺寸深孔等工件量測

LLP (Laser Line Probe)
線雷射測頭：
3D 曲線/曲面高速掃描色層比對